%0 journal article
%@ 0030-4026
%A Appel, F., Beaven, P. A., Neumann, W., Wagner, R.

%D 1991
%J Optik

%P Supplement 

%T Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt
%U 
 
%X