@misc{haeussler_quantitative_temcharakterisierung_2005, 
author={Haeussler, D., Jaeger, W., Yang, S., Spieker, E., Stoermer, M., Zwicker, G.},
title={Quantitative TEM-Charakterisierung komplexer Schichtsysteme mit Hilfe der geometrischen Phasenmethode},
year={2005},
howpublished = {conference poster: Koeln (D);},
note = {Haeussler, D.; Jaeger, W.; Yang, S.; Spieker, E.; Stoermer, M.; Zwicker, G.: Quantitative TEM-Charakterisierung komplexer Schichtsysteme mit Hilfe der geometrischen Phasenmethode. In: Jahrestagung - Deutsche Gesellschaft fuer Kristallographie (DGK), Deutsche Gesellschaft fuer Kristallwachstum und Kristallzuechtung (DGKK) und Nationalkomitee fuer Kristallographie der Oesterreichischen Akademie der Wissenschaften (NKK-OEAW). Koeln (D). 2005.}}