Eigenschaften der Trennschichten; Atomic Force Microscopy, Kontaktwinkelmessungen

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URL: https://publications.hereon.de/id/14302/
Authors:Kamusewitz, H.
Year:1998
In: Workshop bei der Fa. Sartorius AG
Location:Goettingen (D)
Date:13.05.1998
Cite as: Kamusewitz, H.: Eigenschaften der Trennschichten; Atomic Force Microscopy, Kontaktwinkelmessungen. In: Workshop bei der Fa. Sartorius AG. Goettingen (D), 13.05.1998, 1998.