Moeglichkeiten und Grenzen der Kontaktwinkelmessung und der Raster-Kraft-Mikroskopie fuer die Charakterisierung von Grenzflaechen an synthetischen Flach- und Hohlfadenmembranen
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URL: https://publications.hereon.de/id/14309/
Authors:Kamusewitz, H.
Year:1995
In: Vortrag an der Technischen Fakultaet der Christian-Albrechts-Universitaet Kiel
Location:Kiel (D)
Date:09.01.1995
Cite as: Kamusewitz, H.: Moeglichkeiten und Grenzen der Kontaktwinkelmessung und der Raster-Kraft-Mikroskopie fuer die Charakterisierung von Grenzflaechen an synthetischen Flach- und Hohlfadenmembranen. In: Vortrag an der Technischen Fakultaet der Christian-Albrechts-Universitaet Kiel. Kiel (D), 09.01.1995, 1995.
