Texture analysis using synchrotron X-ray diffraction techniques

• URL: https://publications.hereon.de/id/25452/
• Authors:Yi, S., Brokmeier, H.-G.
• Year:2007
• In: Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fuer Kristallographie
• Location:Bremen (D)
• Date:05.-09.03.2007
• Cite as: Yi, S.; Brokmeier, H.-G.: Texture analysis using synchrotron X-ray diffraction techniques. In: Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fuer Kristallographie. Bremen (D), 05.-09.03.2007, 2007.

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