Local texture analysis on the ECAPed Mg-Si alloys with x-ray diffraction

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URL: https://publications.hereon.de/id/25453/
Authors:Gan, W., Brokmeier, H.-G., Zheng, M.Y., Wu, K., Yi, S., Schwebke, B., Schreyer, A.
Year:2007
In: Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fuer Kristallographie
Location:Bremen (D)
Date:05.-09.03.2007
Cite as: Gan, W.; Brokmeier, H.-G.; Zheng, M.Y.; Wu, K.; Yi, S.; Schwebke, B.; Schreyer, A.: Local texture analysis on the ECAPed Mg-Si alloys with x-ray diffraction. In: Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fuer Kristallographie. Bremen (D), 05.-09.03.2007, 2007.